Cap micrometru manual cu rolă încrucișată pentru trepte axa XZ

Inspecția semiconductorilor are cerințe stricte pentru precizia și stabilitatea echipamentelor, iar etapa de ridicare manuală a axei XZ funcționează excelent. Etapa sa de 125*125 mm este potrivită pentru plasarea cipurilor semiconductoare; După tratamentul negru anodizat, materialul din aliaj de aluminiu are o performanță excelentă anti-interferență, ceea ce poate evita afectarea rezultatelor inspecției. Acționat de un micrometru, permite reglarea fină a axei X și a axei Z, iar capacitatea sa de încărcare de 147N poate susține cipurile în mod stabil. Cu ajutorul acestei etape, inspectorii pot ajusta cu precizie poziția cipurilor, pot coopera cu echipamentele de inspecție pentru a efectua o inspecție cuprinzătoare a performanței cipurilor, pot detecta problemele în timp util și pot îmbunătăți calitatea produselor semiconductoare.